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2015-7

四探針測試儀簡介
四探針測試儀-概述：數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。四探針測試儀-特點：儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬...
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2015-7

表面電阻率測試儀的影響因素
表面電阻率測試儀的影響因素主要有測試電壓，測試時間，環(huán)境溫濕度和外界干擾這些，下面一一來看下具體的影響在哪里。1.測試電壓(電場強度)對表面電阻率測試儀的影響?介質材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內保持不變，即歐姆定律對此并不適用。常溫條件下，在較低的電壓范圍內，電導電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后，由于離子化運動加劇，電導電流的增加遠比測試電壓增加的快，材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見，外加測試電壓越高，材料的電阻值越低，以致...
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2015-7

粉末流動性測定儀相關簡介
粉末流動性測定儀粉體流動性測試儀通過測試休止角（安息角）、定質量流速、定體積流速、表觀密度、松裝比、體積密度、堆積密度及松散密度等數(shù)據(jù)來評定粉末流動能力；采用多規(guī)格可更換出口孔徑之漏斗;根據(jù)測試粉體流動能力狀況來選擇配置出口漏斗孔徑數(shù);出口控制檔板，秒表計時功能;.配置標準不銹鋼量筒，固定圓盤法角度測試.本品為粉體流動性測試綜合性測量平臺。粉末流動性測定儀測量1稱量50g一份的樣品，到±0.1g。2用手堵住漏斗底部小孔，把稱量好的50g樣品倒進漏斗中，注意粉末必...
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2015-6

水份檢測的意義
水分測定儀簡介：水分測定儀能夠檢測各類有機及無機固體、液體、氣體等樣品中含水率的的儀器叫做水分測定儀，按測定原理可以分類物理測定法和化學測定法兩大類。物理測定法常用的用失重法、蒸餾分層法、氣相色譜分析法等，化學測定方法主要有卡爾費休法（KarlFischer）、甲苯法等，標準化組織把卡爾費休（KarlFischer）方法定為測微量水分標準，我們也把這個方法定為標準測微量水分。常見的失重法水分儀有鹵素水分測定、紅外水分測定儀、微波水分測定儀等；常見的卡爾費休水分測定儀主要有容量...
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2015-6

顆粒松裝密度測定儀的測量過程介紹
顆粒松裝密度測定儀是一種常用于實驗室的測定顆粒質量密度的儀器。它可以測量顆粒的流動性和松裝密度，具體測量過程如下。顆粒松裝密度測定儀適用于用標準漏斗法測定金屬粉末的流動性。凡能自由流過孔徑為2.5mm標準漏斗的粉末，均可采用本裝置。注：FL4-1型號漏斗為黃銅材質。一、測量原理金屬粉末的流動性，以50g金屬粉末流過規(guī)定孔徑的標準漏斗所需要的時間來表示。二、顆粒松裝密度測定儀儀器結構1漏斗(小孔直徑2.5mm和5.0mm)漏斗為黃銅材料制成，且具有足夠的壁厚和硬度，以防變形和過...
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2015-6

電壓降測試儀使用方法
電壓降測試儀功能1、該儀器適用于測量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降，從而判斷接線口優(yōu)劣，本儀器具有可調的恒電流輸出，微電壓測試和數(shù)碼管顯示。2、測試可設定時間，時間到和電流超高關斷電路測量。3、該產品采用先進電路，其測量出的電壓降值直接通過數(shù)碼管顯示，直觀明了。電壓降測試儀使用方法端子與電線壓接處的電壓降試驗，在端子與電線壓接處中間位置至電線75mm長的電線處(剝去絕緣層釬焊牢固，寬度可根據(jù)客戶要求定做)的兩點間測量，扣除75mm長的電線電壓降后即為端子...
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2015-6

密度計簡單介紹
密度計-簡介：密度計（DensityMeter）測量的基本原理是，衡量感光材料曝光和顯的變黑程度即黑度。在制版時，感光材料上的溴化銀，受到光照作用，顯還原成金屬銀，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。帶有濾光片的測量計，還可以測量彩色原稿的彩色密度。其測量原理與上述基本原理相近。常用密度計有兩種，一種測密度比純水大的液體密度，叫重表；另一種測密度比純水小的液體，叫輕表。密度計-分類：按照密度計的應用場景不同，可以將密度計分為臺式密度計和便攜式密度計。按測量的...
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2015-6

表面電阻率測試儀高阻測量時的注意事項
表面電阻率測試儀在很多方面都有所應用，比較典型的應用有以下幾種：1.測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值2.測量防靜電材料的電阻及電阻率3.測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值4.測量絕緣材料電阻(率)5.光電二極管暗電流測量6.物理，光學和材料研究表面電阻率測試儀用于高阻測量時一定要嚴格按使用方法進行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。具體步驟如下：1、應在“Rx”兩端開路時調零(主機開機)。如接在電阻箱或被測量物體上時調零后測量會產生很大的誤差。一般一次調零后在測試過程中不需再調零，...

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