四探針電阻率測試儀廠家

四探針電阻率測試儀電阻率 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 （MΩ） 測試電壓：0-2（V） 精度：0.5 重量：0.5（kg） 尺 寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm，儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm 凈 重：≤1kg。本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。本四探針電阻率測試儀不僅可以用 來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω?cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到標準一級機的水平

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使用方法：

1， 接好電源線，將儀器接上220V交流電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲，規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。

2，面板數(shù)顯表測量時顯示為電阻率值，按鍵調(diào)節(jié)開關(guān)調(diào)節(jié)硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié)，如2.18就調(diào)到218，厚度大于3.98的都調(diào)到3。98，厚度調(diào)好后選擇高阻或低阻可直接測試即可

 測量電阻率：

 1校厚：）四探針針頭壓住待測樣片，根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動按鈕至所要求厚度，

測試四探針筆：

1一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進行操作：

A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接，

B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，

C特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。

D安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲，

E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部

 四探針電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

 本測試儀特設(shè)測試結(jié)果分類功能，zui大分類10類儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。產(chǎn)品具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析